连续四届EI稳定检索，往届会后3个月EI检索！
评职称、毕业要求，留意截稿时间尽快投稿！
机器视觉、人工智能、图像处理、电子技术等等均高录用接收
第五届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议（MVAID 2026）2026 5th International Conference on Machine Vision, Automatic Identification and Detection
2026年4月24-26日 ， 武汉东湖学院-行政楼一楼圆形报告厅（线上/线下均可参会）
截稿时间：见官网
主办单位：武汉东湖学院
征稿主题
Track 1: 图像处理与计算机视觉
计算成像与视觉：3D成像、立体与多视图处理、计算几何，基于物理的视觉模型等...
Track 2: 模式识别与机器学习
机器学习与深度学习：深度学习、神经网络、集成学习等算法在视觉中的应用、算法规划
Track 3: 视觉检测技术与仪器
先进视觉检测技术：三维光学与精密测量、几何量动态测量、智能光学成像（如光谱检测）等...
Track 4: 工业与机器人视觉应用
智能制造与质检：工业产品自动检测（如锂电池、芯片）、预测性维护、智能物流与无人车感知等...
Track 5: 跨学科与前沿应用
医疗与生物医学：医学影像处理与分析、计算机辅助诊断、细胞识别，生物医学信号处理等...
论文出版
所有的投稿经过严格的审稿之后，最终所录用的论文将由SPIE - The International Society for Optical Engineering (ISSN: 0277-786X)出版，出版后将提交至EI Compendex和Scopus检索 。
优秀论文经扩展后可推荐至SCI评审、发表。
◆仅接受全英稿件，请将稿件投至【艾思编译】平台进行翻译；
参会形式
1、会议参会类型：口头报告、海报展示、听众参会
2、全文投稿：一篇录用文章包含一名作者免费参会；
所有参会人员均可开中英文具证明：【参会报名】
转载本文请联系原作者获取授权，同时请注明本文来自彭科科学网博客。
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