2024年11月，MDPI期刊 Metrology 正式被 Emerging Sources Citation Index (ESCI) 收录。在此，衷心感谢作者对期刊的支持，感谢主编、客座编辑、编委与审稿专家的重要贡献和读者的持续关注。
截至目前，MDPI已出版期刊455个，其中198个期刊已被 Emerging Sources Citation Index (ESCI) 收录 (查看ESCI详细名单，请点击：https://www.mdpi.com/about/journals/esci)。
期刊介绍
期刊简介
Metrology 创刊于2021年，旨在为测量科学或测量技术的理论、设计和应用等领域学者提供知识共享的平台。期刊定期发表与测量学主题相关的研究论文、综述和通讯等，欢迎各位学者关注。
期刊主页：https://www.mdpi.com/journal/metrology
发文类型
原创型研究论文、综述、社论等。
期刊主编
Prof. Dr. Han Haitjema
比利时鲁汶大学机械工程系
投稿优势
更高文章曝光度
除ESCI之外，Metrology 目前还被Scopus、CNKI、CNPIEC、Dimensions、DOAJ等数据库收录。
更快发表速度
Time to First Decision：28.5 Days
Acceptance to Publication：7.3 Days
开放获取：读者可以免费阅读期刊文章。
作者持有版权 (可选)
精选发文
Surface-Sensing Principle of Microprobe System for Micro-Scale Coordinate Metrology: A Review
用于微尺度坐标测量的微探针系统表面传感原理综述
Author: Masaki Michihata
https://www.mdpi.com/2673-8244/2/1/4
Error Analysis of an Economical On-Site Calibration System for Linear Optical Encoders经济型线性光学编码器现场校准系统的误差分析
Author: Yatao Huang, Zihan Su, Di Chang, Yunke Sun and Jiubin Tan
https://www.mdpi.com/2673-8244/4/1/9
Analysis of Vector Network Analyzer Thermal Drift Error矢量网络分析仪热漂移误差分析
Author: Aleksandr Bystrov, Yi Wang and Peter Gardner
https://www.mdpi.com/2673-8244/2/2/10
特刊推荐
Advancements in Optical Measurement Devices and Technologies
Edited by Michele Norgia and Rahul Kumar
Submission Deadline:
25 January 2025
https://www.mdpi.com/journal/metrology/special_issues/01RZT1P1XN
Advances in Laser Interferometry for Precision Engineering
Edited by Ruitao Yang, Han Haitjema and Pengcheng Hu
Submission Deadline:
15 February 2025
https://www.mdpi.com/journal/metrology/special_issues/M3S41PF1W2
Metrological Traceability
Edited by Blair Hall
Submission Deadline:
31 May 2025
https://www.mdpi.com/journal/metrology/special_issues/UE85735SQ7
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