这不能一概而论，取决于测量条件的变化规则。仅从理论上讲是存在这种原理的，关键是要让所有误差源呈现随机性影响，譬如测角度盘均匀分划的实现就是依据这种原理，用误差大的母盘制造出误差小的子盘，再以子盘为母盘制造误差更小的子盘。。。但是，一般重复测量总要固定某些测量条件，使得某些误差源产生系统性影响，这样重复测量就不能消减这部分误差，就不能实现对真值的无限逼近。总之，具体分析测量的物理原理至关重要。

理论原理见论文《The new concepts of measurement error theory》，http://blog.sciencenet.cn/blog-630565-969989.html （有中文版）。