本文发表在《电子与封装》2018年第8期，点击此处免费下载全文

• 出版日期:2018-07-20 

• 作者简介:王　华（1985—），男，四川省遂宁市人，本科学历，上海华岭技术部测试工程师，技术专长为测试验证、测试设计分析和量产测试开发，研究方向为高端SoC、FPGA、AD\DA测试验证分析和产业化测试。

摘要： 随着集成电路技术的高速发展，基于可编程互连资源的现场可编程门阵列（FPGA）器件的应用越来越广泛，FPGA区别于ASIC器件的重要特征是可以实现在制造后重新编程为所需的应用或功能要求。随着FPGA的规模不断扩大，对其故障检测、可靠性验证的要求也越来越高。介绍了FPGA在自动测试设备（ATE）上的测试流程，详细介绍了如何通过硬件设计和软件方法在Advantest公司V93000自动测试设备上实现最大矢量深度扩展，最后通过Virtex-4FPGA实际实施案例验证了该方案。

引用本文：

王　华. 基于ATE的FPGA测试技术研究和应用[J]. 电子与封装, 2018, 18(7): 12 -15.

WANG Hua. Research and Application of FPGA Testing Technology Based on ATE[J]. Electronics and Packaging, 2018, 18(7): 12 -15.