博文
利用回旋共振测量有效质量来分析硅晶体的能带结构
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测量计算方法见回旋共振测量有效质量原理。
具体原因见实际晶体中的有效质量及等能面。
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测量计算方法见回旋共振测量有效质量原理。
具体原因见实际晶体中的有效质量及等能面。
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GMT+8, 2024-4-30 22:39
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