利用回旋共振测量有效质量来分析硅晶体的能带结构
2020-11-3 22:32
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测量计算方法见回旋共振测量有效质量原理。
具体原因见实际晶体中的有效质量及等能面。
转载本文请联系原作者获取授权，同时请注明本文来自胡天贵科学网博客。
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具体原因见实际晶体中的有效质量及等能面。
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